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时间：2011-04-28 浏览次数：
专利类型：发明专利
专利名称：一种薄膜厚度和折射率的光学测量方法
发明人：肖青
特此公示十五天，对此如有异议，请于公示之日起五个工作日内向RAYBET雷竞技研究生科提出，联系电话87792269。
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